单晶/衬底

晶体基本特性

晶体取向：

(100), (001), (111), (110) —— 立方晶体和四方晶体

(0001), (1102), (1120), (1010) ——六方晶体

高密勒指数的其他取向衬底或邻位衬底

取向精度： ± 0.5°，通常 < 0.3°，可按照要求达到更好取向精度。

尺寸：

5 mm x 5 mm, 10 mm x 10 mm, 10 mm x 5 mm, 15 mm x 15 mm

12,7 mm x 12,7 mm, 20 mm x 20 mm, 25 mm x 25 mm, ø1", ø2"

横向公差： +/-0.05 mm

常规厚度：

0.5 mm, 1.0 mm, 最低0.1mm

纵向公差： +/- 0.05 mm，或者更好的公差要求

抛光：

单面或双面抛光

表面质量：50x 放大镜下无伤痕

微区粗糙度干涉仪测量

横向分辨率：0.64 µm，纵向分辨率：0.01 nm理论值

粗糙度: ( λ_{cut off} =0.08 mm)

Ra: < 0.5 nm

Rq : < 1.0 nm

Rt : < 2.0 nm

每一批样品都认证

可以根据用户要求对晶体侧面抛光

Orientation: ± 0.1°

Shape: ±0.05 mm

Flatness: lambda/10

Roughness: <0.5 nm

Parallelism: 5 arcsec

常见晶体种类

SrTiO₃，LaAlO₃，MgO，NdGaO₃，LSAT，MgAl₂O₄，TiO₂，LiNbO₃，SrLaGaO₄，SrLaAlO₄，Nb:SiTiO₃，ZrO₂:Y，YAG，YAP，GGG，Al₂O₃，Ce:YAP，SiO₂-glass， a-SiO₂，PMN-PT

CaF₂，MgF₂，BaF₂，LiF

ZnO，ZnS，CdS，Si/Ge，ZnS，ZnTe，CdTe，CdSe，SiC